产品概述：
SICA-2000光谱成像测色分析仪采用远方高光谱测色专利技术，采用CIE D/8测量几何，可快速获得混色、形状不规则以及小尺寸等材料的光谱图像，并对图像各区域的颜色和光谱进行分析，并可对“无法测量的材料”实现数字化高精度测量，非常适用于纺织品、纺织饰物（纽扣、按钮、拉链等）、建筑材料、航空航天材料、油漆、涂料等各行业。
Ø型号规格表
混合信号示波器 DLM5000系列
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