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GO-SPEX500IR 辐射强度分布测试系统

    产品概述:


    系统采用CIE C-γ测量方案,采用独特的自带内置暗室设计。在普通明亮的办公室条件下,可方便、准确地测量红外光源或灯具的辐射强度分布曲线(配光曲线)、总辐射通量红外光谱分布、波长。

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